NF C96-009-1989 电子元件半导体装置机械和气候试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-14 20:17:43
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【英文标准名称】:ElectronicComponentsSemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
【原文标准名称】:电子元件半导体装置机械和气候试验方法
【标准号】:NFC96-009-1989
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1989-08-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:ElectronicComponentsSemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:
【页数】:30P.;A4
【正文语种】:法语
【原文标准名称】:电子元件半导体装置机械和气候试验方法
【标准号】:NFC96-009-1989
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1989-08-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:ElectronicComponentsSemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:
【页数】:30P.;A4
【正文语种】:法语
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