JIS B0103-2005 弹簧的术语汇编

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 06:24:48   浏览:8825   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Glossaryoftermsusedinsprings
【原文标准名称】:弹簧的术语汇编
【标准号】:JISB0103-2005
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:2005-03-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonMachineElements
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,ばね用語(以下,用語という。)につぃて規定する。備考この規格の対応国際規格を,次に示す。なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IECGuide21に基づき,IDT(一致している),MOD(修正している),NEQ(同等でない)とする。
【中国标准分类号】:J26
【国际标准分类号】:01_040_01;01_040_21;01_110;21_060
【页数】:88P;A4
【正文语种】:日语


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【英文标准名称】:SelectionofaClinicalLaboratoryInformationManagementSystem,Guidefor(14.01)
【原文标准名称】:临床实验室信息管理系统的选择指南
【标准号】:ANSI/ASTME792-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据处理;实验室
【英文主题词】:dataprocessing;laboratories
【摘要】:
【中国标准分类号】:C07
【国际标准分类号】:35_240_80
【页数】:
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Timedependentdielectricbreakdown(TDDB)testforgatedielectricfilms
【原文标准名称】:半导体装置.依赖时间的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
【标准号】:BSEN62374-2007
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2008-10-31
【实施或试行日期】:2008-10-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:击穿;检验设备;组件;定义;介质;电气工程;电子设备及元件;外壳;故障;大门;热室;寿命;测量技术;半导体器件;应力;测试;测试装置;依赖时间的;电压;电压应力
【英文主题词】:Breakdown;Checkingequipment;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Failure;Gates;Heatingchamber;Life(durability);Measuringtechniques;Semiconductordevices;Stress;Testing;Testingdevices;Time-dependent;Voltage;Voltagestress
【摘要】:ThisInternationalStandardprovidesatestmethodofTimeDependentDielectricBreakdown(TDDB)forgatedielectricfilmsonsemiconductordevicesandaproductlifetimeestimationmethodofTDDBfailure.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:英语